电镜检测

扫描电子显微镜(SEM)原理为利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,常用于物质表面及断面立体结构的观察。透射电子显微镜(TEM)以电子束为光源,主要应用于物质内部的超微结构观察。

周期:扫描电镜 1-2周(≤5样本);透射电镜3-4周(≤5样本)

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